曲轴表面残余应力分析仪
- 更新日期：2022-08-05
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曲轴表面残余应力分析仪代表了残余应力分析仪在设计和构造的进步，在残余应力和残余奥氏体分析仪中提高了可靠性和便携性功能。
曲轴表面残余应力分析仪代表了残余应力分析仪在设计和构造的进步，在残余应力和残余奥氏体分析仪中提高了可靠性和便携性功能。
曲轴表面残余应力分析仪
检测方法：采用X 射线衍射法对残余应力深度分布进行分析
从曲轴上切下连杆颈并进行修整，以便在所需的测量位置使用 X 射线衍射法对残余应力的深度分布进行实际意义上的检测。当样品固定后，需要在两个方向（轴向和环向）上进行测量。用电解抛光仪抛光后用千分尺检测深度。对每个规定的深度重复该过程，直到获得完整的残余应力深度分布图。用 X 射线衍射法测定残余应力的曲轴轴颈
Xstress G2R 残余应力分析仪主要用于残余应力和残余奥氏体测量。X射线应力检测三角架是X 射线残余应力分析仪重要组成部分，在深度剖面测量中可以精确定位被测样品，安全防护罩会把测量区域*包围起来，确保测量安全。
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用户主要面向航天、航空，石化、电力，锅炉压力容器，机械加工与制造，钢铁、汽车制造，科研机构，高校等。
